一种存储芯片测试用探针插座及其测试方法

本发明涉及探针插座技术领域，尤其是涉及一种存储芯片测试用探针插座及其测试方法，包括上盖板、探针盖和下底座，所述上盖板设置在下底座上方，所述探针盖设置在上盖板和下底座之间，所述上盖板上方设置有用于放置芯片的放置槽，所述放置槽的底部阵列有贯穿设置的第一探针孔，所述上盖板上设置有用于夹持芯片的夹持机构，所述夹持机构传动连接在上盖板和下底座之间，本发明一种存储芯片测试用探针插座及其测试方法在使用时，通过按压上盖板，并带动探针盖下移，使夹持机构夹持住放置槽内待测芯片，探针板上的探针与待测芯片接触，同时探针的另一端向下插入测试机孔位，并配合卡扣结构能够实现保证芯片处于待测状态，保证芯片检测稳定可靠。