一种电子元器件寿命智能预测方法及系统

本发明涉及电子元器件技术领域，具体涉及一种电子元器件寿命智能预测方法及系统，包括以下步骤：S1，数据采集：通过多种传感器对电子元器件进行实时监测，采集多维度数据；S2，数据预处理：对采集到的多模态数据进行预处理；S3，数据融合与特征增强：对预处理后的多模态数据进行融合，形成综合特征，并对综合特征进行特征增强；S4，寿命预测：构建寿命预测模型，对电子元器件进行寿命预测；S5，预测结果动态调整：根据实际使用条件对电子元器件的寿命预测结果进行动态调整。本发明，能够实时反映复杂工况对元器件寿命的影响，动态调整后的预测结果更加贴合实际应用场景。