一种芯片测试设备

本申请公开了一种芯片测试设备，该芯片检测设备通过将芯片存储机构的待测试芯片放置于承载座上暂存，以使第一位置的承载座接收待测试芯片，并在检测座空闲时通过第一转移机构将第二位置的承载座的待测试芯片转移至检测座上以对待测试芯片进行性能测试，使得承载座可以作为芯片暂存位为检测座提供芯片支持；在检测座的设置位置改变或者具有多个检测座时，能够通过承载座和第一运送机构灵活地将待测试芯片转移至检测座上，有效提高测试的灵活性；并且第二运送机构的延伸方向与第一运送机构的延伸方向垂直，能够便于第一转移机构进行待测试芯片的转移，布局合理，进一步地提高芯片检测设备的空间利用率。