一种芯片的自动测试设备

本申请公开了一种芯片的自动测试设备，本申请的自动测试设备包括上料装置、测试装置、中转装置和至少一个夹取装置。至少一个夹取装置用于将上料装置处的待测芯片移动至中转装置上，并将中转装置上的待测芯片移动至测试装置上进行性能测试。通过夹取装置对待测芯片的移动，实现芯片在自动测试设备上的自动测试，减少对芯片进行测试过程中的人工参与率，提高对芯片的测试效率。同时，由于设置了中转装置用于中转待测芯片，可以减少夹取装置一次移动待测芯片的距离，避免夹取装置长时间移动导致移动误差等情况发生，进一步提高自动测试设备的运行效率。