一种基于多波长光学成像的连接器微小缺陷检测方法及系统

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一种基于多波长光学成像的连接器微小缺陷检测方法及系统
申请号:CN202510076571
申请日期:2025-01-17
公开号:CN119985319A
公开日期:2025-05-13
类型:发明专利
摘要
本发明涉及工业视觉检测技术,其公开了一种基于多波长光学成像的连接器微小缺陷检测方法及系统,解决传统光学缺陷检测方案存在的对微小缺陷检测精度不高的问题。该方法首先采用多波长光源在不同波长下分别照射连接器表面;然后分别采集连接器表面在不同波长下的图像;并对采集的不同波长下的连接器表面图像进行预处理;接着对经过预处理的不同波长下的连接器表面图像进行图像融合处理;然后采用图像检测算法对融合处理后的图像进缺陷检测分析,提取缺陷信息;最后根据提取的缺陷信息,采用深度学习算法对缺陷进行分类,并判断是否符合规格要求,输出检测结果。本发明适用于连接器等精密元件的微小缺陷检测。
技术关键词
光学成像 缺陷检测方法 缺陷检测装置 多波长光源 深度学习算法 图像分析模块 工业视觉检测技术 光学缺陷检测 融合算法 融合方法 图像增强 图像采集模块 输出模块 光照 尺寸
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