集成电路智能测试分析系统及方法

本发明涉及数据测试技术领域，尤其涉及一种集成电路智能测试分析系统及方法。所述方法包括以下步骤：获取电路监测数据；对电路监测数据进行数据预处理，生成电路监测预处理数据；对电路监测预处理数据进行多维特征提取，生成电路监测多维特征数据集；对电路监测多维特征数据集进行特征集融合，生成电路监测特征融合数据集；因此，本发明通过精确的数据处理和智能化分析方法，解决了传统电路监测中精度不足、响应延迟及维护成本高的问题，提高了集成电路智能测试的实时性、准确性和可预测性。