内存管理单元的自检方法、装置、电子设备及存储介质

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内存管理单元的自检方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202510101004
申请日期:2025-01-22
公开号:CN120011122A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本申请涉及工业控制技术领域,提供了一种内存管理单元的自检方法、装置、电子设备及存储介质。该方法通过获取预先设置的自检策略,自检策略包含用户态自检方法和内存态验证方法;通过用户态程序执行自检策略中的用户态自检方法,生成自检信息;通过内存态程序执行自检策略对应的内存态验证方法,对自检信息进行自检验证,得到自检验证结果,并将自检验证结果发送给用户态程序,使得用户态程序通过自检验证结果确定内存管理单元的自检结果,本申请通过预先设置自检策略,使得内存管理单元能够通过自检策略中的用户态自检方法生成自检信息,然后通过内存态验证方法验证该自检信息,实现了内存管理单元的自检。
技术关键词
内存管理单元 自检方法 验证方法 数据生成算法 策略 程序 自检模块 生成测试数据 工业控制技术 电子设备 可读存储介质 自检装置 地址映射 处理器 存储器 计算机 标识 接口
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