基于供电切换的芯片批量测试方法及其系统、设备、介质

本申请公开了一种基于供电切换的芯片批量测试方法及其系统、设备、介质，涉及芯片测试领域。方法包括：根据获取的电源控制指令控制所有电源开关闭合，控制供电模块输出第一电源电压至待测芯片；根据第一测试列表对应的第一测试供电信号，控制所有测试开关闭合、控制供电模块输出第一测试电压至待测芯片，对批量的待测芯片进行基于第一测试任务的第一并行测试，得到第一测试结果编码后，生成第一选通信号确定第二测试任务的测试对象；继续同时对测试对象进行基于第二测试任务的第二并行测试，当完成第一测试列表中的所有测试任务，控制供电模块切换输出第二测试电压继续测试第二测试列表。能自动地进行供电切换，提高批量待测芯片的测试效率。