基于结构信息确定样本定位的方法

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基于结构信息确定样本定位的方法
申请号:CN202510140792
申请日期:2025-02-08
公开号:CN120472138A
公开日期:2025-08-12
类型:发明专利
摘要
本公开涉及一种基于结构信息确定样本定位的方法,其中将样本保持在成像设备中的样本保持装置的元件在用成像设备捕获的图像数据中形成结构,包括:提供图像数据、借助于选择模型基于粗略图像数据确定结构区域、借助于识别模型基于结构区域确定结构信息以及基于结构信息确定样本的定位,其特征在于,与图像数据相比,粗略图像数据在细节上减少,结构区域是图像数据中以一定概率捕获结构的区域,并且结构区域的数据量总和小于图像数据的数据量。
技术关键词
成像设备 粗略 数据评估系统 条目 盖玻片 样本载体 捕获结构 样品室结构 计算机程序产品 分类器 微量滴定板 图像堆栈 分辨率 垫片结构 机器学习模型 多边形结构 显微镜
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