芯片功能测试系统与芯片

本申请公开了一种芯片功能测试系统与芯片，例涉及芯片测试技术领域，芯片功能测试系统包括自测试模块与待测试功能模块。自测试模块用于生成并输出测试指令。待测试功能模块与自测试模块连接，待测试功能模块用于接收测试指令，基于预设充电协议将测试指令解析为第一数据，将第一数据经过物理层传输后基于预设充电协议进行解析，输出解析结果。自测试模块还用于生成测试指令与解析结果的比较结果，其中，比较结果用于确定待测试功能模块的功能是否正常。通过上述方式，能够减少芯片制造成本及降低芯片测试成本。