一种自动分选机及控制方法

本申请涉及芯片分选机的技术领域，尤其是涉及一种自动分选机及控制方法，包括上料机构、存料机构、转运机构及检测机构。其中，上料机构用于提供待检测芯片；存料机构用于存放检测后的芯片；转运机构设置在所述上料机构与所述存料机构之间，所述转运机构用于将所述上料机构处的芯片转运至所述存料机构；检测机构包括第一检测件及第二检测件，所述第一检测件设置在所述上料机构的上方，所述第一检测件用于检测芯片正面，所述第二检测件设置在所述上料机构与所述存料机构之间，所述第二检测件位于所述转运机构的下方，当所述转运机构转运芯片时，所述第二检测件能够检测芯片背面。本申请具有提高筛选效率的效果。