半导体封装结构及其形成方法

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半导体封装结构及其形成方法
申请号:CN202510152967
申请日期:2025-02-12
公开号:CN119626913B
公开日期:2025-07-04
类型:发明专利
摘要
本发明涉及半导体封装领域,提供一种半导体封装结构及其形成方法,该方法包括提供玻璃基板,玻璃基板中具有若干分立的玻璃通孔互连结构;采用半导体前段制程中的BEOL工艺在玻璃基板的上表面形成无机介质层和位于无机介质层中的第一互连结构,形成的第一互连结构的密度大于后续在玻璃基板下表面形成的第二互连结构的密度,第一互连结构的特征尺寸小于后续形成的第二互连结构的特征尺寸;采用半导体后段制程中的RDL工艺在玻璃基板下表面形成有机钝化层和位于有机钝化层中的第二互连结构;在无机介质层的上表面贴装至少一个第一半导体芯片。该方法提高了玻璃基板上表面的第一互连结构的布线密度。
技术关键词
半导体封装结构 半导体芯片 通孔互连结构 玻璃基板 半导体器件 多层堆叠结构 介质 半导体后段制程 大马士革结构 半导体衬底 导电连接结构 布线 封装基板 绝缘栅双极晶体管 双极性晶体管 密度 介电常数材料 树脂材料 场效应晶体管
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