一种表面温度传感器芯片电性能测试方法及系统

本发明公开了一种表面温度传感器芯片电性能测试方法及系统，属于电性能测试技术领域。本发明在低、中、高三种不同速度的温度变化环境中测试传感器芯片，获取对应的电压值信号；其次，按升温阶段时间点对这些信号进行精细切分，形成信号切片集合；然后，从这些信号切片中提取响应特征值、稳定特征值和过渡特征值；进一步，基于这些特征值计算不同速度下的性能系数；最后，通过响应特征值计算增强值，对性能系数取均值并进行增强，最终得到电性能评估值。本发明通过在不同速度的温度变化环境中对传感器芯片进行系统性测试，显著提高了电性能测试的精度。