显微镜调节结构、光模块检测装置和光模块检测方法

本发明公开一种显微镜调节结构、光模块检测装置和光模块检测方法，结构包括内框架、中框架和外框架，内框架具有沿Z轴方向贯穿的检测通孔；中框架环设于内框架外周，内框架能相对中框架沿X轴方向位移；外框架包括环设于中框架外周的外框本体、分别固定于外框本体相对两端的前限位件和后限位件，中框架能相对外框本体沿Y轴方向位移；中框架与内框架在Y轴方向相互限位配合，中框架与前限位件形成用于限制内框架沿Z轴方向位移的限位配合，外框本体和前限位件中的至少一者与中框架在X轴方向相互限位配合，前限位件与后限位件形成用于限制中框架沿Z轴方向位移的限位配合。本发明技术方案能够提高光模块的端面检测效率和保证检测结果的可靠性。