半导体器件及其制备方法

AITNT
正文
推荐专利
半导体器件及其制备方法
申请号:CN202510179770
申请日期:2025-02-19
公开号:CN119673886A
公开日期:2025-03-21
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种半导体器件及其制备方法。本申请的半导体器件的制备方法包括如下步骤:于的表面形成第一金属粘接层;于金刚石散热层的表面上形成第二金属粘接层;于第一金属粘接层和第二金属粘接层的表面上分别涂覆纳米银膏;将第一金属粘接层和第二金属粘接层设置于泡沫铜层的相对表面上,通过加热处理使纳米银膏和泡沫铜层形成化合物层,化合物层的材料包括Ag2Cu3。本申请的半导体器件的制备方法能够制备得到具有金刚石散热层的散热效果较好的半导体器件。同时,上述制备方法对金刚石的表面粗糙度的要求较低,无需对金刚石进行抛光,制备难度较低。
技术关键词
半导体器件 纳米银膏 泡沫 非晶金刚石 多晶金刚石 单晶金刚石 银纳米颗粒 涂覆 散热层 醋酸 加热 粗糙度 芯片 抛光 层叠
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种功率半导体器件双向测试装备及测试方法
功率半导体器件 动态测试机 静态测试机 传输单元 机械臂
2
一种用瓶片生产PET泡沫板系统的设计和控制方法
参数 瓶片 泡沫板 推荐方法 上料风机
3
一种小型化光电共封半导体器件及其封装方法
半导体激光器芯片 半导体器件 层叠结构 射频传输线 薄膜电阻
4
一种氧化镓MOSFET器件抗单粒子烧毁加固结构及其仿真优化方法
氧化镓MOSFET器件 仿真优化方法 加固结构 SiO2钝化层 粒子
5
半导体器件及其制备方法、芯片、电子设备
HEMT器件 基底层 半导体器件 晶体管 势垒层
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号