一种用于半导体气体传感器的线性度优化测试方法

本发明公开了一种用于半导体气体传感器的线性度优化测试方法，属于气体检测技术领域，具体包括：获取当传感器线性度大于设定标准时的工作温度区间[A,B]，并在测试环境中设置若干个测试温度来实时采集传感器的内部温度，对于每个测试温度，如果它小于A，则控制可调电压输出电路对传感器进行加热；如果它大于B，则控制可调电压输出电路对传感器进行降温。在任一测试温度下，绘制传感器内部温度随时间变化的曲线，并计算该测试温度对应的温度变化速度；然后根据温度变化速度计算对应的平衡工作电压，并将其作为可调电压输出电路在该测试温度下的工作电压；本发明实现了对气体传感器在不同场景下的针对性优化。