摘要
本申请公开了一种芯片封装结构的制备方法,适用于半导体技术领域,该制备方法包括在晶圆上依次形成层叠的第一掩膜层和第二掩膜层。形成导电过孔,导电过孔贯穿第二掩膜层和第一掩膜层,并延伸至晶圆内,导电过孔包括位于第二掩膜层内的第一子过孔,第一子过孔包括靠近晶圆的第一开口,以及远离晶圆的第二开口,第二开口的面积大于第一开口的面积。在导电过孔中形成导电结构,导电结构包括位于第一子过孔的第一部。去除第二掩膜层,暴露导电结构的第一部。去除导电结构的第一部。本申请的技术方案实现了芯片封装结构的电学性能的提升。
技术关键词
导电结构
掩膜
芯片封装结构
刻蚀气体
刻蚀工艺
副产物
层叠
醇类
压强
加热
机械
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