PMU和信号下发参数调节的DDR测试机

本发明提供了一种PMU和信号下发参数调节的DDR测试机，属于芯片测试技术领域，包括：若干测试板卡，每块板卡测一个Site；所述测试板卡通过交换机与上位机连接，采用TCP/IP协议通信；Load Board与设备采用连接器对插，通过机械锁紧结构辅助锁紧和分离；电源板与开关电源连接；所述上位机与KVM和handler连接。本发明提供的PMU和信号下发参数调节的DDR测试机，可满足DDR3、LPDDR3、DDR4、LPDDR4、DDR5等SDRAM存储芯片的封装测试，支持多电平的信号传输，可以通过上位机灵活配置电压值进行封装测试时，可根据SPEC，灵活调整PMU下发的电压值或者电流值；可支持的电压范围：‑5.5V～5.5V，电流‑80mA～80mA，满足目前大多数芯片的测试，测试功能全面，成本低。