一种透明件光学阵列式角偏差高精度光学测量方法

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一种透明件光学阵列式角偏差高精度光学测量方法
申请号:CN202510195165
申请日期:2025-02-21
公开号:CN120120992A
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种透明件光学阵列式角偏差高精度光学测量方法,涉及自动化检测技术领域。该方法首先获取透明件置入前后的四点阵列光斑图像,得到光斑基准图像和光斑偏移后的阵列光斑图像;然后对光斑基准图像和光斑偏移后的阵列光斑图像的光斑亮度中心进行检测,获得光斑基准图像和阵列光斑图像中四个光斑亮度中心点的坐标;进而计算阵列光斑图像中四个光斑亮度中心点的光学角偏差;最后根据阵列光斑图像中四个光斑亮度中心点的光学角偏差估算光学角偏差区域,确定该区域内任意点的角偏差值。该方法相较于传统的光学角偏差测量方法,具有检测范围大、检测精度高、计算效率高、自动化程度高等优点。
技术关键词
光斑 光学测量方法 透明件 阵列 图像 亮度 激光发射装置 坐标 基准 偏差测量方法 光学系统 自动化检测技术 样条插值算法 像素 激光接收装置 环境光 灰度矩阵 矩形 轮廓
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