一种电子元器件检测系统及方法

本发明公开了一种电子元器件检测系统及方法，涉及电子元器件检测技术领域，本发明，对图像特征、功能参数特征及环境响应特征进行量化，生成统一的特征数据集，结合支持向量机SVM对元器件状态分类，有效区分正常、可疑及潜在故障元器件，并根据分类结果结合生产需求标注检测优先级；此外，通过分类误差率分析与损失函数优化，提高模型预测准确性；基于检测优先级采用改进的多目标调度算法MOEA/D，将检测时间和检测成本纳入优化目标，动态调整资源分配策略；高优先级元器件分配至核心检测资源，而低优先级元器件则使用共享资源或安排在非高峰时段，有效提升资源利用率和调度效率；并动态调整权重向量，进一步增强调度算法适应性。