摘要
本发明涉及集成电路设计验证的技术领域,提供了一种芯片功耗分析优化方法及系统,包括获取芯片的电路结构信息,对电路结构信息进行解析,生成电路的模块拓扑图和功能逻辑图并进行分析,得到静态功耗数据和动态功耗数据后,输入预设的分析模型,得到工作模式参数后,对电路结构信息中的关键路径进行重构,基于重构后的电路结构信息,对功能逻辑图重新进行动态行为仿真,生成仿真功耗数据,将仿真功耗数据与动态功耗数据进行对比分析,并基于对比结果生成功耗优化方案。通过获取芯片的电路结构信息并进行分析,生成功耗优化方案,提高芯片的能效比,改善在功耗热点的定位及电路优化重构时,存在着对复杂电路结构难以快速生成优化路径的问题。
技术关键词
分析优化方法
拓扑图
动态
芯片
电路模块
数据
静态功耗分析
重构
生成电路
参数
电路仿真
集成电路设计验证
热点
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深度优先搜索算法
功耗分析方法
分析优化系统
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