一种单片集成MEMS微差压芯片及制备方法

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一种单片集成MEMS微差压芯片及制备方法
申请号:CN202510218119
申请日期:2025-02-26
公开号:CN120081332A
公开日期:2025-06-03
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种单片集成MEMS微差压芯片它包括在第一SOI硅片上设有若干第一注入区(10)、第二注入区(11)、全介质隔离结构(6)、集电区(8)、基区(9),发射区(7)和埋层(1),在第二注入区(11)、集电区(8)、基区(9)和发射区(7)上均设有对应配合的金属引线(13),在第一SOI硅片上连接有第二双抛硅片(5),通过光刻、注入、退火、刻蚀、成膜、溅射工艺制备单片集成MEMS微差压芯片。本发明具有结构简单、制备方便等有待你为制造高性能、高可靠性的MEMS压力芯片提供了高效且经济的解决方案。
技术关键词
介质隔离结构 SOI硅片 单片 光刻 氧化层 芯片 刻蚀工艺 衬底层 接触孔 腔体 氧化工艺 引线 成膜 高性能 槽体 锥形 导电 真空 地面
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