一种高通量的晶体材料光强图谱获取方法

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一种高通量的晶体材料光强图谱获取方法
申请号:CN202510229642
申请日期:2025-02-27
公开号:CN120121615A
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本发明涉及光强图谱成像技术领域,具体涉及一种高通量的晶体材料光强图谱获取方法,以解决现有技术中空间分辨率和图谱分辨率相互限制、无法适应小晶粒及晶粒分割精度有限等问题。本发明通过获取预设照明条件,利用小数值孔径光学成像系统采集低空间分辨率的强度图像序列,采用超分辨波前重构模型处理得到高空间分辨率的复振幅场,进而进行晶界识别与晶粒分割,最终统计不同照明条件下晶粒的光强形成光强图谱。本发明将超分辨波前重构技术应用于光强图谱获取,实现了高通量、高空间分辨率和高图谱分辨率的光强图谱获取,无需额外硬件配置,为晶体材料研究提供了更为高效和精准的表征手段。
技术关键词
高通量 低空间分辨率 光强 图谱 图像 照明设备 晶体 光学成像系统 重构算法 像素 强度 重构模型 序列 照明光源 边缘检测算法 重构技术
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