等效全球平均TEC模型构建方法、装置及电子设备

AITNT
正文
推荐专利
等效全球平均TEC模型构建方法、装置及电子设备
申请号:CN202510242389
申请日期:2025-03-03
公开号:CN120370341A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本申请涉及电离层关键参数监测技术领域,特别涉及一种等效全球平均TEC模型构建方法、装置及电子设备,其中,方法包括:获取全球电离层地图中全球平均TEC;获取全球多个均匀分布的稀疏GNSS站点的观测数据文件;根据观测数据文件计算每个站点在观测时刻与各个卫星之间的电离层穿刺点的TEC特征参数,基于TEC特征参数构建数据集;将数据集中TEC特征参数与全球平均TEC进行匹配,利用数据集和全球平均TEC对电离层模型进行训练,利用训练完成的电离层模型计算等效全球平均TEC。由此,解决了相关技术需要获取大量GNSS站的电离层观测数据,建模流程复杂的问题。
技术关键词
模型构建方法 站点 参数监测技术 神经网络模型 模型构建装置 地图 数据 电子设备 格网 处理器 模块 存储器 接收机 样本 程序
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种微地震事件智能定位方法及系统
智能定位方法 高斯概率密度函数 震源 检波器位置 地震
2
一种空间物体识别模型的构建方法、装置、介质和设备
空间物体识别 雷达截面积 神经网络模型 频率 参数
3
接地故障的识别方法、装置、设备及存储介质
单相接地故障 卷积神经网络模型 图片 中性点接地方式 波形
4
一种基于虚拟身份的物联终端准入方法
物联设备 编码向量 终端准入方法 语义 拓扑特征
5
一种基于自然语言控制的轨迹生成方法
轨迹生成方法 融合特征 文本 大语言模型 轨迹特征
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号