一种半导体芯片吸光度检测装置

本发明公开了一种半导体芯片吸光度检测装置，具体涉及吸光度检测技术领域，包括套架、支框、套接滑块以及倾斜变换检测组件；其中倾斜变换检测组件包括电缸、变位框、导向滑杆、倾斜套块、倾斜导杆、倾斜框、连接架、支撑框，还包括变位检测组件和切换检测组件。本发明采用倾斜变换检测组件，具有方便检测检测芯片的不同点位的吸光度，可以实现倾斜多点位检测，不仅检测更加全面，而且大幅度提高检测效率的优点，从而解决了由于半导体芯片面点位较多，难以根据需要对多个半导体芯片快速进行切换检测，同时难以实现倾斜多点位检测，不仅检测不够全面，而且检测效率较低的问题。