伪调节能力的评估方法、设备及存储介质

本申请公开了伪调节能力的评估方法、设备及存储介质，本申请涉及图像处理技术领域，该方法根据预设的最佳度数确定伪调节测量范围，并根据所述伪调节测量范围，以预设步长递增，采集待检测晶状体在每一级别下的至少一张光斑图像，然后基于所述光斑图像计算得到点扩散函数，并确定对应的点扩散函数宽度，再根据所述点扩散函数宽度确定成像质量，于所述成像质量中确定最佳成像质量，最后确定所述最佳成像质量下降预设百分比时的目标成像质量，并根据所述最佳成像质量以及所述目标成像质量关联的调节度数确定调节幅度。上述方法可以通过光斑图像计算点扩散函数宽度，进而确定成像质量，最后通过成像质量确定调节幅度，以降低伪调节能力的测量成本。