芯片封装结构和封装方法

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芯片封装结构和封装方法
申请号:CN202510268566
申请日期:2025-03-07
公开号:CN119786452B
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本申请提供的一种芯片封装结构和封装方法,涉及半导体封装技术领域。该芯片封装结构中,第一倒装芯片贴装于衬底,且与衬底电连接。第二倒装芯片至少部分贴装至第一倒装芯片。第二倒装芯片设有第一电连柱,第一电连柱与衬底电连接;第二倒装芯片设有第一柱体。第三倒装芯片至少部分贴装至第二倒装芯片;第三倒装芯片设有第二电连柱,第二电连柱与衬底电连接;第三倒装芯片设有第二柱体。第一柱体位于第一电连柱和第一倒装芯片之间,且第一柱体与衬底之间有间距。第二柱体位于第二电连柱和第二倒装芯片之间,且第二柱体与衬底之间有间距。该封装结构有利于提升底部胶体的流动性和填充性,防止胶体开裂或出现空洞。
技术关键词
倒装芯片 芯片封装结构 柱体 衬底 封装方法 半导体封装技术 焊盘 屏蔽层 布线 间距 静电 空洞 通道
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