一种基于大数据的电路板缺陷智能检测方法

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一种基于大数据的电路板缺陷智能检测方法
申请号:CN202510271370
申请日期:2025-03-08
公开号:CN120182702A
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于大数据的电路板缺陷智能检测方法,属于电路板检测分类技术领域,该方法包括利用可见光、红外光、紫外光对PCB进行缺陷检测并进行数据集预处理,得到预处理数据集;将得到的预处理数据集输入至特征提取网络,对各图像进行特征提取,获取第一特征图;将得到的第一特征图输入至多模态特征融合模块,获得多模态融合后的第二特征图;将第二特征图输入至多尺度特征融合模块,获得多尺度融合后的第三特征图;将第三特征图输入至预测头,获取预测图;方法能够解决目前对可见光的依赖度较高,单纯依赖可见光检测很难发现微小缺陷的问题。
技术关键词
电路板缺陷 智能检测方法 全局特征融合 大数据 光学图像数据 可见光 特征提取网络 检测分类技术 多模态特征融合 模块 多尺度特征融合 图片 分支 成像 红外光 紫外光
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