一种基于大数据的数字芯片故障检测方法及系统

本发明公开了一种基于大数据的数字芯片故障检测方法及系统，方法包括：通过收集芯片失效故障分析的历史层级数据，提取各阶段特征数据，并基于特征数据建立失效故障分析数据的多维度特征关联；同步基于单一失效根因建立芯片失效故障的单一故障定位模型以及基于关联交互的失效多根因建立芯片失效故障的多故障定位模型；通过单一故障定位模型和多故障定位模型进行失效故障定位，并输出失效故障定位结果，最后再分别对上述单一故障定位模型和多故障定位模型的故障定位输出结果进行验证复现，本发明利用失效根因的判断结果构建对应的故障定位模型，解决现有的单一故障定位方法面对影响因素多样并相互作用带来的定位精度较低的问题。