一种太赫兹倍频器测试系统与方法

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一种太赫兹倍频器测试系统与方法
申请号:CN202510288087
申请日期:2025-03-12
公开号:CN120372328A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种太赫兹倍频器测试系统与方法,属于测试技术领域。本发明通过上位机控制测试仪器实现太赫兹倍频器端口输出功率、输出信号频谱特征指标同步全自动数据采集,提升了批量倍频器的测试效率;利用上位机数据处理单元集成的谐波分析算法与K‑Means聚类分析算法实现谐波次数分析以及性能指标典型值聚类分析,较为全面的呈现出倍频器的性能指标,指导太赫兹倍频器与太赫兹系统的研制开发与迭代设计;基于谐波分析算法与K‑Means聚类分析算法集成的太赫兹倍频器测试系统,提升了太赫兹倍频器的性能指标的测试效率与测试全面性。本发明可更高效全面的实现太赫兹倍频器性能指标测试与分析。
技术关键词
太赫兹倍频器 全自动数据采集 谐波分析算法 扩频模块 聚类分析算法 信号发生器 定向耦合器 测试方法 驱动单元 信号频谱分析仪 检测太赫兹信号 测试仪器 探头 功率计
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