一种用于阴影显微离散颗粒测量的标定装置与方法

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一种用于阴影显微离散颗粒测量的标定装置与方法
申请号:CN202510291640
申请日期:2025-03-12
公开号:CN120102417A
公开日期:2025-06-06
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种用于阴影显微离散颗粒测量的标定装置与方法,属于阴影显微成像领域,包括照明模块、图像采集模块、标准颗粒固定装置和数据处理模块,所述标准颗粒固定装置位于照明模块和图像采集模块之间,所述数据处理模块与图像采集模块连接;所述照明模块用于产生均匀光场,使光场照射于标准颗粒固定装置上;所述标准颗粒固定装置用于固定已知粒度的标准颗粒并控制进行移动;所述图像采集模块用于拍摄标准颗粒在均匀光场下的离焦/在焦阴影图像,并将离焦/在焦阴影图像传输至数据处理模块;所述数据处理模块采用颗粒参数标定算法对离焦/在焦阴影图像进行处理,得到离焦距离‑粒度测量模型。
技术关键词
成像特征 图像采集模块 数据处理模块 标定装置 图像裁剪方法 曲线 照明模块 标定算法 固定装置 矩阵 位移台 承载装置 标定方法 相干光源 载玻片 高分辨率相机 悬浮液 纵轴 横轴
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