一种便于上下料的芯片测试座

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种便于上下料的芯片测试座，包括有底座、测试座本体、翻盖和万用表等，底座顶部安装有测试座本体，测试座本体顶部铰接有翻盖，翻盖和测试座本体之间连接有扭簧，测试座本体顶部安装有万用表，万用表和测试座本体电性连接。本发明通过电动吸盘向下移动可以将芯片放到测试座本体上，自动进行上料，测试座本体可以对芯片进行测试，电动吸盘向上移动可以将芯片从测试座本体上吸出，自动进行下料，重复操作，可以自动且连续地对芯片进行测试，从而能够提高整体的测试效率，有利于大规模生产。