多模型融合的PCB通孔缺陷检测方法、装置、设备及介质

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多模型融合的PCB通孔缺陷检测方法、装置、设备及介质
申请号:CN202510293846
申请日期:2025-03-13
公开号:CN119810102B
公开日期:2025-08-19
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种多模型融合的PCB通孔缺陷检测方法、装置、设备及介质,该方法包括:获取待处理样本图像集,并对待处理样本图像集进行处理得到目标样本图像集;基于目标样本图像集对各待训练深度学习模型进行剪枝训练,得到与各待训练深度学习模型相对应的目标深度学习模型,其中,目标深度学习模型包括目标关键点模型、目标检测模型和目标分割模型;各待训练深度学习模型的模型结构互不相同;基于目标深度学习模型建立目标融合模型,并将待检测图像输入目标融合模型中,确定与待检测图像相对应的通孔缺陷检测结果。通过多模型融合并且结合剪枝优化,可以充分发挥各个模型在缺陷检测中的优势,并且在保证高精度的基础上显著提高推理速度。
技术关键词
训练深度学习模型 图像 样本 关键点 输出特征 多模型 通孔缺陷检测装置 通道剪枝 重构矩阵 特征重构层 注意力 标签 模型训练模块 处理器 可读存储介质 标注软件 批量
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