一种芯片虚焊检测装置

本发明提供了一种芯片虚焊检测装置，属于检测装置技术领域，其主要针对现有的检测装置对芯片虚焊中的引脚虚焊问题检测的全面性较低的问题，包括有检测外壳，检测外壳内沿水平方向依次开设有振动腔、视觉检测腔与热成像检测腔，检测外壳靠近振动腔的一端开设有控制腔，控制腔内设置有控制组件，振动腔内设置有振动组件，振动组件顶部设置有芯片框架，视觉检测腔内设置有视觉检测组件，热成像检测腔内设置有热成像仪，检测外壳内设置有三组激光发射管，两组第一导轨底部设置有同一组可移动的运送组件；通过振动组件对芯片进行振动操作，随后通过视觉检测组件与热成像仪对芯片的引脚进行视觉检测与热成像检测，提升了检测的全面性。