高电子迁移率晶体管芯片及其制备方法

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高电子迁移率晶体管芯片及其制备方法
申请号:CN202510305331
申请日期:2025-03-14
公开号:CN120379301A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本公开公开了一种高电子迁移率晶体管芯片及其制备方法,属于半导体技术领域。高电子迁移率晶体管芯片包括依次叠设的高阻层、复合阻挡层和外延层;高阻层为C掺杂的GaN层;复合阻挡层包括叠设的第一阻挡层和第二阻挡层,第一阻挡层为SiN层,第二阻挡层为单晶BN层;外延层包括依次层叠的沟道层、势垒层和盖帽层。本公开实施例能够提升高电子迁移率晶体管芯片的动态特性。
技术关键词
复合阻挡层 电子迁移率晶体管 势垒层 盖帽层 缓冲层 芯片 外延 衬底 单晶 层叠 气体 氢气 压力 硅烷 氮气 甲基 动态
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