一种显示芯片的测试方法及系统

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一种显示芯片的测试方法及系统
申请号:CN202510356731
申请日期:2025-03-25
公开号:CN120220555A
公开日期:2025-06-27
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种显示芯片的测试方法及系统,先接收测试信息,测试信息包括测试数据和命令头中的至少一种;根据测试信息生成测试指令,测试指令用于读取数据、写入数据、显示数据中的至少一种;将测试指令发送给显示芯片;显示芯片接收测试指令,并响应。本申请提供的显示芯片测试方法可以由多种常见的编程装置来实现,不依赖某一特定的编程装置,因此,降低了测试成本。
技术关键词
显示图像数据 子模块 命令 指令 编程装置 芯片测试方法 标识 电源切换开关 电源模块 协议 接口模块 HDMI接口 关系 参数 评估系统
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