一种处理方法、装置及电子设备

本申请公开了一种处理方法、装置及电子设备，该处理方法包括：根据测试设备和用于待测芯片的测试用例，生成所述测试设备支持的初始测试向量；基于所述初始测试向量，对所述待测芯片进行仿真验证，并基于仿真验证结果对所述初始测试向量进行调整，直至仿真验证通过，形成目标测试向量；基于所述目标测试向量，生成所述测试设备的测试程序。