一种功率半导体器件的服役寿命评估方法及系统

本发明公开了一种功率半导体器件的服役寿命评估方法及系统，属于半导体技术领域，其具体包括：通过获取待评估器件，进行不同单一结温波动下的功率循环测试，记录失效数据，包括循环次数、结温波动范围和电性能参数；随后，统计分析失效数据，计算结温波动幅度相关性疲劳因子和功率循环频率累积疲劳因子，并结合结温波动模式因子，得到复合疲劳因子；采用加权累加法，根据复合疲劳因子与动态权重计算累积疲劳因子；将累积疲劳因子输入预构建的服役寿命评估模型，计算器件服役寿命；当累积疲劳因子超阈值时，触发预警机制，输出预警信息，提示器件寿命即将或已到期；实现了对功率半导体器件服役寿命的准确评估和预警。