基于可视化波形平台的芯片测试方法、装置、系统及介质

本发明公开了一种基于可视化波形平台的芯片测试方法、装置、系统及介质，涉及芯片测试领域，方法包括：获取用户基于芯片类型选择的初始模拟波形；提取初始模拟波形的目标参数，并获取用户输入的编辑结果，编辑结果是用户通过可视化波形平台对目标参数进行编辑得到；基于编辑结果对初始模拟波形进行调整，得到目标模拟波形；将目标模拟波形转换为二进制波形数据，并将二进制波形数据发送至硬件执行机构，以使硬件执行机构基于二进制波形数据生成激励信号，并通过激励信号控制数模转换器驱动芯片输出响应波形；根据目标模拟波形与响应波形，确定芯片是否通过测试。降低了对操作人员的专业技能要求，减少了操作难度，并提高了测试效率。