用于O型圈尺寸测量和外观检测的方法

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用于O型圈尺寸测量和外观检测的方法
申请号:CN202510405607
申请日期:2025-04-02
公开号:CN119919410B
公开日期:2025-07-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种用于O型圈尺寸测量和外观检测的方法,通过图像预处理、进行感兴趣区域的分割、边缘提取与中心点确定等方式来进行O型圈的尺寸测量。之后,进行外观检测,分别进行边缘型缺陷检测、内部缺陷检测,随后进行结果融合与筛选。由此,可实现高精度的测量,适应不同类别的O型圈,及时发现存在的缺陷,满足毛刺、毛边等边缘缺陷检测。并且,内部缺陷检测采用深度学习算法,通过数据准备、模型训练和模型优化等步骤,能够准确识别缺胶、杂质、破损、断裂等内部缺陷。
技术关键词
内部缺陷检测 O型圈 缺陷类别 深度学习模型 融合策略 尺寸 区域分割算法 图像 坐标 深度学习算法 感兴趣 像素 消除噪声 工业相机 边缘检测 毛边 长宽比 采样点 短距离 滤波
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