一种氮化镓芯片高温测试自动出入料机构及方法

本发明公开了一种氮化镓芯片高温测试自动出入料机构及方法，涉及芯片高温测试出入料技术领域。一种氮化镓芯片高温测试自动出入料机构，包括测试台，还包括：转动设置在所述测试台内的运输盘，且运输盘与测试台滑动并密封，所述运输盘上设置有放置槽，所述测试台的底部固定安装有第一电机，所述第一电机的输出轴与运输盘固定连接；本发明通过使运输盘与测试台滑动并密封，确保了测试过程中内部温度的稳定，减少了热量损失，降低了加热能耗，同时加热部通过电加热器对氮化镓芯片进行精准加热至测试温度，测试组件则通过探针与芯片的端子接触进行高温测试，同时利用活塞筒内的压缩空气实现耐高压测试，确保了测试的全面性和准确性。