一种针对绝缘子缺陷检测模型的自适应进化对抗攻击方法

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一种针对绝缘子缺陷检测模型的自适应进化对抗攻击方法
申请号:CN202510407608
申请日期:2025-04-02
公开号:CN120410982A
公开日期:2025-08-01
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种针对绝缘子缺陷检测模型的自适应进化对抗攻击方法,包括以下步骤:获取原始绝缘子图像;基于所述原始绝缘子图像,采用半透明圆形和RGB值的扰动生成方法生成初始扰动向量,并叠加到所述原始绝缘子图像中,得到初始对抗图像;基于自适应差分进化算法对所述初始扰动向量的生成过程进行优化,得到优化后的扰动向量和优化后的对抗图像;将所述优化后的对抗图像进行修复处理,得到修复后的对抗图像;将所述修复后的对抗图像输入绝缘子缺陷检测模型中,输出攻击成功率,完成对抗攻击过程。与现有技术相比,本发明具有优化攻击效果等优点。
技术关键词
绝缘子缺陷 图像 RGB颜色值 半透明 像素 匈牙利匹配算法 进化算法 生成方法 广义 峰值信噪比 透明度 采样方法 参数 立方体 圆心 因子 表达式 定义 系列
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