基于迭代凸优化的阵列单元失效校正方法

本发明涉及基于迭代凸优化的阵列单元失效校正方法，包括以下步骤：对失效元件的线性阵列进行分析，确定失效元件的位置；构建失效阵列问题模型求解新的激励权值；利用凸优化算法和回溯算法迭代求解，得到算法的最优解；将最优解应用到正常工作的元件形成校正后的阵列；通过对比算例和性能分析进行验证。本发明提出基于迭代凸优化的阵列单元失效校正方法，通过定义目标函数和约束条件，并依据经典阵列参数如副瓣电平SLL、半功率波束宽度HPBW和方向性系数Directivity，满足不同的需求并且将校正后的阵列性能最接近原始完好阵列。