电源芯片测试装置及系统

本申请提供一种电源芯片测试装置及系统。该装置包括控制模块，与控制模块连接的基准模块和采样模块：基准模块用于输出基准电压，并将基准电压传输至控制模块，基准电压为待测电源芯片需提供的测试电压；采样模块与待测电源芯片连接，待测电源芯片用于向采样模块输入电源；控制模块用于控制采样模块将待测电源芯片输入的电源转换为采样电压；控制模块还用于接收采样模块传输的采样电压，并根据基准电压和采样电压控制采样模块输出的采样电压，使得采样模块输出的采样电大等于基准电压。本申请的装置无需功能模块的参与即可准确实现待测电源芯片的测试。