一种工业缺陷图像生成方法、装置、电子设备及介质

本申请提供了一种工业缺陷图像生成方法、装置、电子设备及介质，有效地解决了现有的深度生成模型存在的生成效果不稳定、缺陷与掩码对应性差以及难以生成细微缺陷的问题。该方法包括：获取目标输入文本以及所述目标输入文本对应的正常工业图像，并文本反演所述目标输入文本生成异常掩码；输入所述目标输入文本、所述正常工业图像与所述异常掩码至预先基于扩散模型建立好的缺陷模仿网络模型中；控制所述缺陷模仿网络模型基于所述异常掩码掩蔽目标掩蔽区域，得到目标缺陷图像；计算所述目标缺陷图像与所述目标输入文本之间的相似结果，并基于所述相似结果确定所述目标缺陷图像为所述目标输入文本对应的工业缺陷图像。