一种基于卷积神经网络的液晶屏幕Mura缺陷检测系统

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一种基于卷积神经网络的液晶屏幕Mura缺陷检测系统
申请号:CN202510429672
申请日期:2025-04-08
公开号:CN119937195A
公开日期:2025-05-06
类型:发明专利
摘要
本发明属于视觉检测技术领域,尤其是一种基于卷积神经网络的液晶屏幕Mura缺陷检测系统,包括步骤在液晶屏上建立XY坐标系,通过滚动显示目标区域并控制亮度循环,获取待检测图像;还包括步骤对所述图像进行预处理,包括去噪和亮度均衡;还包括步骤通过傅里叶变换提取图像的频域特征,结合边缘冲击算法计算缺陷的边缘属性;还包括步骤将预处理后的图像输入卷积神经网络,通过动态迭代优化网络权重,生成缺陷检测结果并输出;本发明通过动态滚动和亮度控制,增强缺陷区域的对比度,并且使频域与空间域结合,进而大大提升了微小Mura缺陷的检出率,相比较传统检测方式,效率和精度更高。
技术关键词
Mura缺陷 液晶屏幕 局部纹理特征 频域特征 视觉检测技术 亮度 动态 坐标系 图像处理 阶段 优化器 网络 分支 对比度 注意力 算法 滤波器 符号
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