一种MCU控制芯片测试数据智能处理方法及系统

本发明公开了一种MCU控制芯片测试数据智能处理方法及系统，涉及芯片质量控制技术领域，通过收集MCU控制芯片测试数据，构建测试数据集合S，并依据测试数据集合S，提取三个特征指标，进行滑动窗口设定，进行趋势分析，识别出第一风险等级和第二风险等级的芯片状态，并结合提取的特征指标，获取综合风险评分ZH，评估芯片质量水平，实现了对芯片质量的多级评估和精细化管理，提升了测试数据的预测能力和预警能力，减少了芯片质量问题的产生。