SOI衬底及其制造方法、SOI功率器件、芯片、电子元件

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SOI衬底及其制造方法、SOI功率器件、芯片、电子元件
申请号:CN202510449866
申请日期:2025-04-11
公开号:CN119967865A
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种SOI衬底及其制造方法、SOI功率器件、芯片、电子元件,所述SOI功率器件包括依次堆叠的第一衬底、埋层及第二衬底;所述第二衬底中设有体区和漂移区,所述体区中设有源端,所述漂移区中设有漏端,栅极结构设于所述体区及所述漂移区表面上;所述漂移区下的埋层中设有若干凹槽,所述凹槽内设有第一介质与所述第二衬底相接触,所述第一介质的介电常数小于所述埋层的介电常数。本发明可提高SOI功率器件的性能。
技术关键词
SOI功率器件 SOI衬底 电子元件 介质 栅极结构 凹槽 芯片 空气
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