摘要
本发明提供一种开放环境作物叶绿素荧光参数成像检测方法及装置,基于作物冠层掩膜图像对作物冠层高光谱图像进行作物冠层分割,得到作物冠层图像;根据聚类算法基于作物冠层图像进行分层分割,得到上层叶片图像与下层叶片图像;确定上层叶片图像的上层叶绿素荧光强度、下层叶片图像的下层叶绿素荧光强度;基于均衡亮度与作物吸收光合有效辐射,分别对上层叶绿素荧光强度以及下层叶绿素荧光强度进行补偿,得到上层叶绿素荧光信号修正值与下层叶绿素荧光信号修正值;基于上层叶绿素荧光信号修正值与下层叶绿素荧光信号修正值,构建可视化叶绿素荧光参数空间分布图像。本发明能够实现开放环境作物冠层叶绿素荧光参数成像快速准确检测。
技术关键词
叶绿素荧光参数
作物冠层
成像检测方法
图像
叶片
强度
纳米
亮度
反射率
信号
聚类算法
非暂态计算机可读存储介质
成像检测装置
掩膜
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