易失性存储器周期性March测试系统与方法

本公开提供了一种对存储器执行自测试的方法。所述方法可以包括：基于所述存储器的状态确定存储器内建自测试(MBIST)单元的操作模式；响应于所述操作模式为启动模式，配置所述MBIST单元执行第一类型的存储器自测试；以及响应于所述操作模式为运行时模式，配置所述MBIST单元周期性地执行第二类型的存储器自测试。